GB/T 17711-1999 钇钡铜氧（123 相）超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法
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时间:2024-05-27 03:09:11
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基本信息
| 标准名称： | 钇钡铜氧（123 相）超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法 |
| 英文名称： | The DC electric resistance test method for the critical temperature Tc of a YBa2Cu3O7-δ superconducting thin film |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 电子设备专用材料、零件、结构件 >> 电子技术专用材料 |
| ICS分类： | |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 1999-03-01 |
| 实施日期： | 1999-10-01 |
| 首发日期： | 1999-03-13 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 中国科学院 |
| 归口单位： | 全国超导标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国科学院物理研究所超导国家重点实验室 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-15 |
| 页数： | 平装16开， 页数：7， 字数：8千字 |
| 书号： | 155066.1-16022 |
适用范围
本标准规定了钇钡铜氧(123相）超导薄膜临界温度Tc、超导转变宽度ΔT、零电阻温度Tco的直流电阻试验方法。本标准适用于膜厚为(100~500)nm的钇钡铜氧(123相)超导薄膜的临界温度Tc、超导转变宽度ΔT，零电阻温度Tco的测定。本标准不适用于多相和半导体型的钇钡铜氧超导薄膜上述参数的测定。
前言
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目录
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所属分类： 电子元器件与信息技术 电子设备专用材料 零件 结构件 电子技术专用材料
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