NF C96-050-7-2011 半导体器件.微电机器件.第7部分:射频控制与选择用MEMSBAW滤波器
作者:标准资料网
时间:2024-05-26 23:20:14
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part7:MEMSBAWfilterandduplexerforradiofrequencycontrolandselection.
【原文标准名称】:半导体器件.微电机器件.第7部分:射频控制与选择用MEMSBAW滤波器
【标准号】:NFC96-050-7-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-12-01
【实施或试行日期】:2011-12-30
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristics;Components;Definitions;Duplex;Electricalengineering;Filters;Highfrequencies;Layers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:31P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.微电机器件.第7部分:射频控制与选择用MEMSBAW滤波器
【标准号】:NFC96-050-7-2011
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2011-12-01
【实施或试行日期】:2011-12-30
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Characteristics;Components;Definitions;Duplex;Electricalengineering;Filters;Highfrequencies;Layers;Materials;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Microsystemtechniques;Properties;Samples;Semiconductordevices;Systemengineering;Testing;Testingconditions
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_220_01
【页数】:31P;A4
【正文语种】:其他
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